エリオニクス　三次元粗さ解析走査電子顕微鏡 ERA-600

概要

高分解能で観察しながら粗さ解析ができる、エリオニクスならではの走査電子顕微鏡

特長

世界で唯一、二次電子検出器を4本搭載

• 高分解能SEMで観察しながら、表面粗さなどの3次元データを取得、定量解析が可能
• JIS規格の粗さパラメータで評価出来ます
• 二次電子信号による凹凸像が取得可能で、凹か凸かわかりにくいサンプルも容易に判別が可能
• オプションの刃先解析プログラムにて、鋭利な刃先先端Ｒの測定が可能

仕様

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詳細

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